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產品中心少子壽命測試儀（MDP）MD picts溫度依賴型壽命測試係統
MD picts溫度依賴型壽命測試係統，可檢測電阻率高於 0.3 Ω cm的單晶矽與多晶矽，重要聚焦缺陷、少子壽命及光電導的溫度依賴型測量，同時可檢測矽中的汙染物及電活性晶體中的缺陷，具備微波光電導衰減瞬態（μPCD）和穩態（MDP）測量功能。
更新時間：2026-07-13
產品型號：MD picts
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