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產品中心少子壽命測試儀（MDP）HT picts高溫少子壽命測量係統
HT picts高溫少子壽命測量係統，用於寬禁帶材料在高溫區間的非接觸、無損傷的溫度依賴型測量，涵蓋少子壽命、電學特性表征及深能級缺陷研究。（涵蓋瞬態模式μPCD、穩態模式MDP、微波光電導等方法，符合SEMI PV9-1110 半導體標準）。
更新時間：2026-07-13
產品型號：HT picts
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